产品名称：宽光束成像仪宽波长光斑分析仪WB-I SWIR

宽光束成像仪宽波长光斑分析仪WB-I SWIR

       Ophir宽光束成像仪附件是一个紧凑、校准的光学系统，用于测量VCSEL、LED、边缘发射激光器和光纤激光器的大光束和发散光束的尺寸和功率分布。它采用了一个45mm的漫射板，来自光源的光束投射到该漫射板上。然后将该图像缩小8倍，并重新成像到相机焦平面上。VCSEL、LED和光纤激光器被用于许多敏感的应用中。为了保证设备的高质量，分析光束轮廓是至关重要的，但这些宽的发散光束对测量系统提出了特定要求：传统光束轮廓仪的孔径太小，无法收集大光源或发散光源的整个光斑。

      发散光束不能用常规探测器**测量，因为探测器的量子效率高度依赖于入射角。WB-I的紧凑、加固和便携设计使VCSEL和LED系统能够在客户现场提供光束剖面的现场服务，也可以在生产线和研发实验室进行操作。

       与标准光束轮廓仪传感器的15°相比，发散光束测量由于可以进行高达70°的角度测量而显著改进。

        WB-I配件与摄像头和BeamGage软件一起提供实时光束形状分析。可以容易地检测由于不同电流引起的光束形状变化的可视化。

        可变衰减，通过一组可互换的滤波器或光圈，可以测量各种不同发射功率的光源。

        指定从事以下领域的研发、生产和服务：数据通信、汽车、遥感、人脸和手势识别

        典型测量：远场能量分布、发散、LIV扫描测试VCSEL（光束轮廓与电流（A））

型号                                广角成像仪VIS                            广角成像仪SWIR

波长                                      350（1）-1100nm                      900-1700nm

活动区域（2）                            Ø45mm                                     Ø45mm

光斑尺寸（2），（3）                10mm–45mm                           10mm–45mmm

入射角                                              ＜70°                                         ＜70°

*小细节（4），（5）                           0.5mm                                  0.5mm

*低可测量信号                                         100µW/cm2（6）             3µW/cm2（光圈在1550nm处完全打开）

*大功率暴露CW（7）                    200W无限制，1000W持续1分钟          50W无限制时间

*大能量暴露（8）                          For ns pulses 1.5J/cm2                          N/A

成像仪凹槽支撑                                             4.5mm                              17.5 mm（C型安装）

相机型号推荐                                              SP932U                                    SP1203

尺寸                         L=265mm X Ø57mm (Ø73mm Iris control)               L=265mm X Ø57mm (Ø73mm Iris control)

重量（带支架）                        0.6公斤（0.8公斤）                                             0.6公斤（0.8公斤）

零件号                                            SP90612                                                        SP90605